SSR-ER太陽光反射比測(cè)量?jī)x
能夠準(zhǔn)確測(cè)量漫反射和鏡面反射材料的太陽能吸收率和反射率,甚至還可測(cè)透明材料透射率(厚度可測(cè) 6.4mm)。太陽能反射率或吸收率的精度為0.001級(jí)別,重復(fù)精度在0.003 。
AE配置包含測(cè)量頭、鎢鹵素?zé)?、過濾器、多個(gè)不同波段探測(cè)器、讀數(shù)模塊數(shù)顯分辨率0.001、黑腔體、標(biāo)準(zhǔn)版等。
有六個(gè)經(jīng)過高精度標(biāo)定的探測(cè)器來對(duì)應(yīng)不同的光譜范圍,通過創(chuàng)建一個(gè)自定義加權(quán)法來配置每個(gè)儀器,從而大化的減少不同儀器的變化影響結(jié)果,內(nèi)部鹵鎢燈對(duì)樣品孔處的樣品提供漫照射,反射光能在與正常情況下成20°角被檢測(cè)器接收。通過相互作用,這個(gè)檢測(cè)結(jié)果等同于在同樣檢測(cè)條件下檢測(cè)得到的直射光能。
SSR-ER反射率測(cè)量?jī)x可用于熱表面材料;控制和保護(hù):薄膜、涂層;太陽能:吸收涂層、反射涂層;鏡面材料和反射材料
SSR-ER太陽光反射比測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
測(cè)量光譜 | 為了匹配不同的太陽光譜,配置了六個(gè)經(jīng)過高精度標(biāo)定的探測(cè)器來對(duì)應(yīng)不同的光譜范圍。通過創(chuàng)建一個(gè)自定義加權(quán)法來配置每個(gè)儀器,儀器對(duì)太陽光譜的匹配得到了優(yōu)化,而我們的儀器之間的差異也縮減到小。覆蓋波長(zhǎng)360nm-2100nm。 |
分辨率 | 4位數(shù)的液晶顯示結(jié)果代表了我們所 測(cè)量的反射率,吸收率和透射率都能達(dá)到 0.001級(jí)別的分辨率。 |
重復(fù)性 | +/- 0.003 單元 |
精度 | 對(duì)一個(gè)較典型太陽能光譜范圍,偏差大 約為±0.002,標(biāo)準(zhǔn)差大約0.005。 |
漂移 | 5分鐘預(yù)熱后, 漂移小于 +/- (讀數(shù)的1%+0.003)每小時(shí)。 |
溫度 | 工作溫度電子控制器可耐140 F (60 C). 測(cè)量頭和透射率附件大可耐 120F (50 C). |
濕度 | 存儲(chǔ)和工作濕度80% |
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) | 提供漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)。這些是二級(jí)標(biāo)準(zhǔn),校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)可溯源至NBS標(biāo)準(zhǔn) (2019和2023)。標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被編程在電子封裝中的只讀存儲(chǔ)器中,并提供在校準(zhǔn)記錄上。 |
測(cè)量端口 | 反射率測(cè)量端口直徑為1英寸 (2.54cm)。將樣品放置在一個(gè)特氟龍墊片 上,這個(gè)墊圈可以保護(hù)樣本表面避免在測(cè)量過程中被損壞。樣本大小直徑不小于1.1英寸 (2.8厘米)。透光率測(cè)量端口直徑為1.5英寸(3.8厘米)。樣品要靠著一個(gè)支撐板上,樣品大小不小于1.65英寸(4.2厘米) |
透光率或透射比測(cè)量 | 樣品被漫反射光照射 時(shí),透射能量的測(cè)量也是通過儀器以一定的角度測(cè)量的。大致角度是與正常角度呈0~60°夾角,通過相互作用,這種測(cè)量等同 于測(cè)量一定角度的光束輻射下的材料透過率。 |